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      Micron Technology

      Employeur impliqué

      Reliability Engineer : entretien chez Micron Technology

      Question d’entretien chez Micron Technology

      Entretien pour Reliability Engineer

      FGT failure modes

      Réponse à la question d'entretien

      Utilisateur anonyme

      9 mai 2019

      Biasing at high voltage causes failure (NBTI)

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